2014-01-15

Ny generation XRF instrument Bruker S1 TITAN

Produktbild från företaget Karl Deutsch Nordiska AB - Ny generation XRF instrument Bruker S1 TITAN

Bruker S1 TITAN introducerar 4 nya instrumentmodeller. S1 TITAN 200 och 300 med SiPIN detektor för främst analys av metalllegeringar och ädelmetaller men kan även användas för analys vid miljömätningar på jord, tungmetaller i kosumentprodukter mm.

S1 TITAN 600 och 800 har en snabb SDD detektor med snabbare mättid och kan analysera upp till 37 grundämnen från Mg-U, inkluderat då lätta element som Al, Mg och Si. Modell 800 är dessutom försedd med kamera som standard för att exakt kunna se var analysen utförts.

Samtliga modeller har förbättrats på en rad punkter för att göra instrument tåligt även för de tuffaste miljöer. Samtliga modeller är idag försedda med "Detector Shield" som skyddar instrumentets detektor från att punkteras och kan därigenom undvika kostsamma reparationer. Detta är speciellt användbart vid analys av metallklipp på skrotgårdar, skrotsortering av vassa objekt, analys av kretskort mm.

Information om företaget: Karl Deutsch Nordiska AB

Nyheten presenteras i samarbete med MyNewsdesk