National Instruments anordnar Europakonferens om automati...

National Instruments anordnar Europakonferens om automatisk testning

Onlinekonferens där branschledande företag delar med sig av erfarenheter

National Instruments är värd för den första alleuropeiska online-konferensen om automatiserad testning som tar upp trender och nya utmaningar inom automattestområdet. Konferensen, som kallas Pan-European Automated Test Summit, är en kostnadsfri heldagskonferens som kan följas på Internet den 27 november klockan 10.00. Man kan se inledningsanföranden och tekniska sessioner, delta i frågeforum och kommunicera med utställande tillverkare. Efteråt kommer konferensen att finnas tillgänglig på begäran i 30 dagar.

”National Instruments har nöjet att arbeta tillsammans med teknikledande företag inom automatisk testning och presentera de senaste strategierna och den senaste tekniken när det gäller att klara de krav som testingenjörer och chefer hos ledande elektroniktillverkare kommer att ställas inför”, säger Francis Griffiths, som är National Instruments vice försäljningsdirektör i Europa. ”För att underlätta för arbetstyngda tekniker att delta i konferensen lägger National Instruments ut den online, så att de kan få nyheter och tips inom testutveckling när det passar för dem.”

Under konferensen kommer representanter från företag som Averna, Intel, Microsoft, National Instruments och Texas Instruments att dela med sig av sitt tekniska kunnande och sina erfarenheter. Dessutom kommer Mike Santori, som är Business and Technology Fellow på National Instruments, att inleda konferensen med ett anförande rubricerat ”Developing Next-Generation Test Systems”, och på eftermiddagen håller Marvin Landrum, som är chef för automatiseringsinfrastruktur på Texas Instruments, ett anförande kallat ”Strategies for Developing a Global Test Program.” Tekniska seminarier tar upp
• kostnadseffektiva strategier för testsystemkonstruktion
• konstruktionserfarenheter vid utformning av återanvändbara testsystem
• teknik för att upprätthålla systemens noggrannhet och tillgänglighet
• tips om integrering av skiljaktiga instrumentplattformar

Ytterligare information om den alleuropeiska konferensen om automatiserad testning (Pan-European Automated Test Summit) finns på www.ni.com/testsummiteurope.